Sayre, D. (1988). X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987. Springer Berlin Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-540-39246-0
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sayre, David. X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1988. https://doi.org/10.1007/978-3-540-39246-0.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sayre, David. X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987. Springer Berlin Heidelberg, 1988. https://doi.org/10.1007/978-3-540-39246-0.
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