Thomas, J. P., & Cachard, A. (1978). Material Characterization Using Ion Beams. Springer US. https://doi.org/10.1007/978-1-4684-0856-0
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Thomas, J. P., und A. Cachard. Material Characterization Using Ion Beams. Boston, MA: Springer US, 1978. https://doi.org/10.1007/978-1-4684-0856-0.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Thomas, J. P., und A. Cachard. Material Characterization Using Ion Beams. Springer US, 1978. https://doi.org/10.1007/978-1-4684-0856-0.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.