Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces: 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis
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| Corporate Author: | |
|---|---|
| Format: | Conference Proceeding Book |
| Language: | English |
| Published: |
Les Ulis
Ed. de Physique
1984
|
| Series: | Colloque
1983,10 |
| Subjects: | |
| Physical Description: | XVIII, 533 S. graph. Darst. |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042335020 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 150209s1984 d||| |||| 00||| eng d | ||
| 035 | |a (OCoLC)915567791 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042335020 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 049 | |a DE-83 | ||
| 111 | 2 | |a Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces |d 1983 |c Paris |j Verfasser |0 (DE-588)804604-9 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces |b 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| 246 | 1 | 1 | |a Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| 264 | 1 | |a Les Ulis |b Ed. de Physique |c 1984 | |
| 300 | |a XVIII, 533 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Colloque |v 1983,10 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Ellipsometrie |0 (DE-588)4152025-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 1983 |z Paris |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Ellipsometrie |0 (DE-588)4152025-7 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Ellipsometrie |0 (DE-588)4152025-7 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 830 | 0 | |a Colloque |v 1983,10 |w (DE-604)BV000018697 |9 1983,10 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027771667 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804152942417149952 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author_corporate | Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris |
| author_corporate_role | aut |
| author_facet | Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris |
| author_sort | Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces Paris |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042335020 |
| ctrlnum | (OCoLC)915567791 (DE-599)BVBBV042335020 |
| format | Conference Proceeding Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01659nam a2200397 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV042335020</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">150209s1984 d||| |||| 00||| eng d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)915567791</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042335020</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="111" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces</subfield><subfield code="d">1983</subfield><subfield code="c">Paris</subfield><subfield code="j">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)804604-9</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces</subfield><subfield code="b">7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Les Ulis</subfield><subfield code="b">Ed. de Physique</subfield><subfield code="c">1984</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XVIII, 533 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Colloque</subfield><subfield code="v">1983,10</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ellipsometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4152025-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">1983</subfield><subfield code="z">Paris</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Ellipsometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4152025-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Ellipsometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4152025-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Colloque</subfield><subfield code="v">1983,10</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000018697</subfield><subfield code="9">1983,10</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027771667</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1983 Paris gnd-content |
| genre_facet | Konferenzschrift 1983 Paris |
| id | DE-604.BV042335020 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:18:44Z |
| institution | BVB |
| institution_GND | (DE-588)804604-9 |
| language | English |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027771667 |
| oclc_num | 915567791 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-83 |
| owner_facet | DE-83 |
| physical | XVIII, 533 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1984 |
| publishDateSearch | 1984 |
| publishDateSort | 1984 |
| publisher | Ed. de Physique |
| record_format | marc |
| series | Colloque |
| series2 | Colloque |
| spelling | Conférence Internationale sur Ellipsométrie et Autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces 1983 Paris Verfasser (DE-588)804604-9 aut Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis Les Ulis Ed. de Physique 1984 XVIII, 533 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Colloque 1983,10 Ellipsometrie (DE-588)4152025-7 gnd rswk-swf Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd rswk-swf Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1983 Paris gnd-content Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 s Ellipsometrie (DE-588)4152025-7 s DE-604 Oberfläche (DE-588)4042907-6 s Colloque 1983,10 (DE-604)BV000018697 1983,10 |
| spellingShingle | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis Colloque Ellipsometrie (DE-588)4152025-7 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4152025-7 (DE-588)4136925-7 (DE-588)4042907-6 (DE-588)1071861417 |
| title | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_alt | Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_auth | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_exact_search | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_full | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_fullStr | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_full_unstemmed | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_short | Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces |
| title_sort | ellipsometrie et autres methodes optiques pour l analyse des surfaces et films minces 7 10 juin 1983 paris france ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| title_sub | 7 - 10 juin 1983, Paris (France) = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis |
| topic | Ellipsometrie (DE-588)4152025-7 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd |
| topic_facet | Ellipsometrie Dünne Schicht Oberfläche Konferenzschrift 1983 Paris |
| volume_link | (DE-604)BV000018697 |
| work_keys_str_mv | AT conferenceinternationalesurellipsometrieetautresmethodesoptiquespourlanalysedessurfacesetfilmsmincesparis ellipsometrieetautresmethodesoptiquespourlanalysedessurfacesetfilmsminces710juin1983parisfranceellipsometryandotheropticalmethodsforsurfaceandthinfilmanalysis AT conferenceinternationalesurellipsometrieetautresmethodesoptiquespourlanalysedessurfacesetfilmsmincesparis ellipsometryandotheropticalmethodsforsurfaceandthinfilmanalysis |