Klapetek, P. (2013). Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology (1. ed.). Elsevier.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Klapetek, Petr. Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology. 1. ed. Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 2013.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Klapetek, Petr. Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology. 1. ed. Elsevier, 2013.
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