APA-Zitierstil (7. Ausg.)

(1973). Computed electron micrographs and defect identification. North-Holland Pub. Co.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Computed Electron Micrographs and Defect Identification. Amsterdam: North-Holland Pub. Co, 1973.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Computed Electron Micrographs and Defect Identification. North-Holland Pub. Co, 1973.

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