Speckle metrology:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Academic Press 1978
Schriftenreihe:Quantum electronics--principles and applications
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xiv, 331 pages)
ISBN:0122413601
0323154972
9780122413605
9780323154970

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