The physics of SiO₂ and its interfaces: proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si0₂ and Its Interfaces, held at the IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Topical Conference on the Physics of SiO₂ and Its Interfaces <1978, Yorktown Heights, N.Y.> (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Pergamon Press ©1978
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xi, 488 pages)
ISBN:0080230490
9780080230498

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