Protonendotierung von Silizium: Untersuchung und Modellierung protoneninduzierter Dotierungsprofile in Silizium
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Laven, Johannes G. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Wiesbaden Springer Vieweg 2014
Schriftenreihe:Research
Schlagworte:
Beschreibung:XVI, 314 S. graph. Darst.
ISBN:9783658073893

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