Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Fan, Yongquan (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Dordrecht Springer 2011
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references (p. [183]-192) and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xii 194 p.)
ISBN:9781282996403

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