Analysis and design of resilient VLSI circuits: mitigating soft errors and process variations
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Garg, Rajesh (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer c2010
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references (p. 283-298) and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xxii, 212 p.)
ISBN:1441909311
9781441909312
9781282836815

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