Life-cycle assessment of semiconductors:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Boyd, Sarah B. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Springer c2012
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (xxvii, 226 p.)
ISBN:9781441999887
1441999884
9781441999870
9781283351515

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