Breitenstein, O. (2010). Lock-in thermography: Basics and use for evaluating electronic devices and materials (2nd ed.). Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Breitenstein, O. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. 2nd ed. Heidelberg [Germany]: Springer, 2010.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Breitenstein, O. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. 2nd ed. Springer, 2010.
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