Yablon, D. G. (2014). Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Wiley.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Hoboken, New Jersey: Wiley, 2014.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Wiley, 2014.
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