Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Yablon, Dalia G. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Hoboken, New Jersey Wiley 2014
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (pages cm)
ISBN:1118723147
9781118723142
9781306072960

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