Atomic force microscopy: exploring basic modes and advanced applications
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Haugstad, Greg 1963- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Hoboken, NJ Wiley 2012
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource
ISBN:9781118360668
9780470638828

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