Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Dietrich, Edgar 1951- (VerfasserIn), Schulze, Alfred 1952- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München [u.a.] Hanser 2014
Ausgabe:4., überarb. Aufl.
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XV, 497 S. Ill., graph. Darst. 25 cm
ISBN:3446427775
9783446427778

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