Electrical Characterization of HfO2-based embedded ReRAM-Structures: A comperative Study:

Photonik

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kubotsch, Steffen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Wildau TH 2013
Schlagworte:
Zusammenfassung:Photonik
Beschreibung:61 S. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM

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