Franco, J. (2014). Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Franco, Jacopo. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. 2014. https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Franco, Jacopo. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications. 2014. https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0.
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