5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013: normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | German English |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
2013
|
| Ausgabe: | Nichtred. Ms.-Dr. |
| Schriftenreihe: | VDI-Berichte
2194 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 211 S. Ill., graph. Darst. |
| ISBN: | 9783180921945 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV041465503 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20131210 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 131206s2013 ad|| |||| 10||| ger d | ||
| 020 | |a 9783180921945 |9 978-3-18-092194-5 | ||
| 035 | |a (OCoLC)867160286 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV041465503 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger |a eng | |
| 049 | |a DE-91G |a DE-M347 |a DE-83 |a DE-706 |a DE-210 | ||
| 084 | |a ZQ 3100 |0 (DE-625)158036: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZQ 3890 |0 (DE-625)158086: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZQ 3950 |0 (DE-625)158090: |2 rvk | ||
| 084 | |a TEC 030f |2 stub | ||
| 084 | |a MSR 010f |2 stub | ||
| 111 | 2 | |a Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik |n 5 |d 2013 |c Nürtingen |j Verfasser |0 (DE-588)1045118710 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |b normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| 246 | 1 | 3 | |a VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |
| 246 | 1 | 3 | |a Fünfte VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |
| 246 | 1 | 3 | |a Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |
| 250 | |a Nichtred. Ms.-Dr. | ||
| 264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI-Verl. |c 2013 | |
| 300 | |a 211 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a VDI-Berichte |v 2194 | |
| 648 | 7 | |a Nürtingen 2013 |2 gnd |9 rswk-swf | |
| 650 | 0 | 7 | |a Metrologie |0 (DE-588)4169749-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikrosystemtechnik |0 (DE-588)4221617-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Nanotechnologie |0 (DE-588)4327470-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 2013 |z Nürtingen |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Mikrosystemtechnik |0 (DE-588)4221617-5 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Nanotechnologie |0 (DE-588)4327470-5 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Metrologie |0 (DE-588)4169749-2 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Nürtingen 2013 |A z |
| 689 | 0 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 710 | 2 | |a VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik |e Sonstige |0 (DE-588)2085237-X |4 oth | |
| 830 | 0 | |a VDI-Berichte |v 2194 |w (DE-604)BV000016148 |9 2194 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-026911761 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804151597919371264 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author_corporate | Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Nürtingen |
| author_corporate_role | aut |
| author_facet | Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Nürtingen |
| author_sort | Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Nürtingen |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV041465503 |
| classification_rvk | ZQ 3100 ZQ 3890 ZQ 3950 |
| classification_tum | TEC 030f MSR 010f |
| ctrlnum | (OCoLC)867160286 (DE-599)BVBBV041465503 |
| discipline | Technik Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik / Mechatronik |
| edition | Nichtred. Ms.-Dr. |
| era | Nürtingen 2013 gnd |
| era_facet | Nürtingen 2013 |
| format | Conference Proceeding Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02281nam a2200529 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV041465503</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20131210 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">131206s2013 ad|| |||| 10||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783180921945</subfield><subfield code="9">978-3-18-092194-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)867160286</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV041465503</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-M347</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZQ 3100</subfield><subfield code="0">(DE-625)158036:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZQ 3890</subfield><subfield code="0">(DE-625)158086:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZQ 3950</subfield><subfield code="0">(DE-625)158090:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">TEC 030f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">MSR 010f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="111" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik</subfield><subfield code="n">5</subfield><subfield code="d">2013</subfield><subfield code="c">Nürtingen</subfield><subfield code="j">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)1045118710</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013</subfield><subfield code="b">normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Fünfte VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Nichtred. Ms.-Dr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI-Verl.</subfield><subfield code="c">2013</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">211 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">VDI-Berichte</subfield><subfield code="v">2194</subfield></datafield><datafield tag="648" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Nürtingen 2013</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Metrologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169749-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Nanotechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327470-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">2013</subfield><subfield code="z">Nürtingen</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Nanotechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327470-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Metrologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169749-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Nürtingen 2013</subfield><subfield code="A">z</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)2085237-X</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">VDI-Berichte</subfield><subfield code="v">2194</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000016148</subfield><subfield code="9">2194</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-026911761</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2013 Nürtingen gnd-content |
| genre_facet | Konferenzschrift 2013 Nürtingen |
| id | DE-604.BV041465503 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T00:57:21Z |
| institution | BVB |
| institution_GND | (DE-588)1045118710 (DE-588)2085237-X |
| isbn | 9783180921945 |
| language | German English |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-026911761 |
| oclc_num | 867160286 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91G DE-BY-TUM DE-M347 DE-83 DE-706 DE-210 |
| owner_facet | DE-91G DE-BY-TUM DE-M347 DE-83 DE-706 DE-210 |
| physical | 211 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 2013 |
| publishDateSearch | 2013 |
| publishDateSort | 2013 |
| publisher | VDI-Verl. |
| record_format | marc |
| series | VDI-Berichte |
| series2 | VDI-Berichte |
| spelling | Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 5 2013 Nürtingen Verfasser (DE-588)1045118710 aut 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 Fünfte VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 Nichtred. Ms.-Dr. Düsseldorf VDI-Verl. 2013 211 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier VDI-Berichte 2194 Nürtingen 2013 gnd rswk-swf Metrologie (DE-588)4169749-2 gnd rswk-swf Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd rswk-swf Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2013 Nürtingen gnd-content Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 s Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 s Metrologie (DE-588)4169749-2 s Nürtingen 2013 z 1\p DE-604 VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik Sonstige (DE-588)2085237-X oth VDI-Berichte 2194 (DE-604)BV000016148 2194 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 VDI-Berichte Metrologie (DE-588)4169749-2 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4169749-2 (DE-588)4221617-5 (DE-588)4327470-5 (DE-588)1071861417 |
| title | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_alt | VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 Fünfte VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |
| title_auth | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_exact_search | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_full | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_fullStr | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_full_unstemmed | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| title_short | 5. VDI VDE Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 |
| title_sort | 5 vdi vde fachtagung metrologie in der mikro und nanotechnik 2013 normgerechte auswertung charakterisierung und tolerierung von rauheit und mikroformelementen nurtingen 23 und 24 oktober 2013 |
| title_sub | normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 |
| topic | Metrologie (DE-588)4169749-2 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd |
| topic_facet | Metrologie Mikrosystemtechnik Nanotechnologie Konferenzschrift 2013 Nürtingen |
| volume_link | (DE-604)BV000016148 |
| work_keys_str_mv | AT fachtagungmetrologieindermikroundnanotechniknurtingen 5vdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013normgerechteauswertungcharakterisierungundtolerierungvonrauheitundmikroformelementennurtingen23und24oktober2013 AT vdivdegesellschaftmessundautomatisierungstechnik 5vdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013normgerechteauswertungcharakterisierungundtolerierungvonrauheitundmikroformelementennurtingen23und24oktober2013 AT fachtagungmetrologieindermikroundnanotechniknurtingen vdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013 AT vdivdegesellschaftmessundautomatisierungstechnik vdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013 AT fachtagungmetrologieindermikroundnanotechniknurtingen funftevdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013 AT vdivdegesellschaftmessundautomatisierungstechnik funftevdivdefachtagungmetrologieindermikroundnanotechnik2013 AT fachtagungmetrologieindermikroundnanotechniknurtingen metrologieindermikroundnanotechnik2013 AT vdivdegesellschaftmessundautomatisierungstechnik metrologieindermikroundnanotechnik2013 |