Aufbau einer Vierspitzen-Rastertunnelmikroskop-Rasterelektronenmikroskop-Kombination und Leitfähigkeitsmessungen an Silizid-Nanodrähten:
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Bibliographic Details
Main Author: Zubkov, Evgeniy 1982- (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Jülich Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek 2013
Series:Schriften des Forschungszentrums Jülich Reihe Schlüsseltechnologien ; 55
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Online Access:Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Physical Description:150 S. Ill., graph. Darst. 24 cm
ISBN:9783893368488

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