Aufbau einer Vierspitzen-Rastertunnelmikroskop-Rasterelektronenmikroskop-Kombination und Leitfähigkeitsmessungen an Silizid-Nanodrähten:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zubkov, Evgeniy 1982- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Jülich Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek 2013
Schriftenreihe:Schriften des Forschungszentrums Jülich Reihe Schlüsseltechnologien ; 55
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Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung:150 S. Ill., graph. Darst. 24 cm
ISBN:9783893368488

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