X-ray tomography in industrial metrology: precise, economical and universal
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Christoph, Ralf (VerfasserIn), Neumann, Hans Joachim 1932- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
German
Veröffentlicht: [Landsberg/Lech] Verl. Moderne Industrie 2011
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:94 S. Ill., graph. Darst. 19 cm, 170 g
ISBN:9783862360451
9783862360208

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