Tan, C. M. (2013). Electromigration modeling at circuit layout level. Springer. https://doi.org/10.1007/978-981-4451-21-5
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Singapore[u.a.]: Springer, 2013. https://doi.org/10.1007/978-981-4451-21-5.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Springer, 2013. https://doi.org/10.1007/978-981-4451-21-5.
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