Maricau, E. (2013). Analog IC reliability in nanometer CMOS. Springer. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Maricau, Elie. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. New York, NY [u.a.]: Springer, 2013. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Maricau, Elie. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS. Springer, 2013. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0.
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