Verfügbarkeit: Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Welker, Joachim (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Regensburg Univ.-Verl. Regensburg 2013
Ausgabe:	1. Aufl.
Schriftenreihe:	Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 30
Schlagworte:	Wolfram Bindungsenergie Kohlenmonoxid Rasterkraftmikroskopie Hochschulschrift
Online-Zugang:	Volltext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:355-epub-280529 Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:	III, 135 S. zahlr. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9783868450965

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adam_text	IMAGE 1 INHALTSVERZEICHNIS 1. EINLEITUNG 1 2. GRUNDLAGEN D E R RASTERSONDENMIKROSKOPIE 5 2.1. RASTERTUNNELMIKROSKOPIE 5 2.2. RASTERKRAFTMIKROSKOPIE 7 2.2.1. LANGREICHWEITIGE ELEKTROSTATISCHE UND VAN-DER-WAALS-KRAEFTE . . 7 2.2.2. KURZREICHWEITIGE KRAEFTE 9 2.2.3. FREQUENZMODULATIONS-RASTERKRAFTMIKROSKOPIE 11 2.3. FUNKTIONSPRINZIP EINES KOMBINIERTEN AFM/STM 13 3. KRAFTENTFALTUNG 17 3.1. KRAFTENTFALTUNG FUER DISKRETE DATEN 17 3.1.1. SADER-JARVIS-METHODE DER KRAFTENTFALTUNG 17 3.1.2. MATRIX-METHODE DER KRAFTENTFALTUNG 19 3.1.3. BEMERKUNGEN ZUR IMPLEMENTIERUNG 20 3.1.4. POTENZIAL UND LATERALE KRAFT 21 3.2. VERGLEICH DER ENTFALTUNGSMETHODEN 21 3.2.1. METHODIK DES VERGLEICHS 22 3.2.2. ERGEBNISSE FUER DAS MORSE-KRAFTGESET.Z 24 3.2.3. ERGEBNISSE FUER DAS LENNARD-JONES-KRAFTGESETZ 26 3.2.4. DISKUSSION 27 3.3. SONSTIGE EINFLUESSE AUF DIE ENTFALTUNG 30 4. AUFBAU UND MESSTECHNIK 3 3 4.1. QPLUS-SENSOR 33 4.1.1. SENSITIVITAET DES QPLUS-SENSORS 34 4.1.2. ANWENDUNG DES AEQUIPARTITIONSTHEOREMS AUF QUARZSTIMMGABELN 36 4.1.3. ANWENDUNG DES AEQUIPARTITIONSTHEOREMS AUF QPLUS-SENSOREN BEI KRYOGENEN TEMPERATUREN 40 HTTP://D-NB.INFO/1033917540 IMAGE 2 INHAL TSVERZEICHNIS 4.2. OMICRON TIEFTEMPERATUR QPLUS AFM/STM 42 4.2.1. PRAEPARATIONSKAMMER 42 4.2.2. MIKROSKOP UND ANALYSEKAMMER 44 4.3. FELDIONENMIKROSKOP 45 4.3.1. GRUNDLAGEN DER BILDFORMATION 46 4.3.2. AUFBAU 48 4.3.3. AUFNAHME EINES FELDIONENMIKROSKOP-BILDES 53 4.3.4. CHARAKTERISIERUNG DER ATOMAREN STRUKTUR EINER SPITZE 54 5. WINKELABHAENGIGKEIT DER CHEMISCHEN BINDUNG 5 7 5.1. EIGENSCHAFTEN DES PROBENSYSTEMS CO AUF C U ( L L L ) 58 5.1.1. LATERALE FEDERKONSTANTE VON CO AUF C U ( L L L ) 58 5.2. EXPERIMENTELLE DETAILS 60 5.2.1. PRAEPARATION DER PROBE 60 5.2.2. PRAEPARATION DER SENSOREN 61 5.2.3. MESSPROZEDUR UND DATENANALYSE 62 5.3. ERGEBNISSE 66 5.3.1. MESSREIHE SPITZE 1 66 5.3.2. MESSREIHE SPITZE 2 66 5.3.3. MESSREIHE SPITZE 3 67 5.3.4. MESSREIHE SPITZE 4 67 5.3.5. LATERALE KRAFT FUER SPITZE 1 BIS 3 72 5.4. DISKUSSION 73 5.4.1. SPITZEN MIT DEFINIERTER SYMMETRIE 73 5.4.2. SEMI-EMPIRISCHE MODELLIERUNG 74 5.4.3. MANIPULATION 80 5.4.4. DIFFERENTIELLE TUNNELSTROMAUSWERTUNG 83 5.4.5. AUFLOESUNG 86 6. EINFLUSS D E R SPITZE UND D E R LOKALEN UMGEBUNG A U F DIE KRAFTSPEKTROSKOPIE 8 9 6.1. SILIZIUM(LLL) IN DER 7X7-REKONSTRUKTION 90 6.2. EXPERIMENTELLE DETAILS 92 6.2.1. SENSOR- UND PROBENPRAEPARATION 92 6.2.2. MESSPROZEDUR UND DATENANALYSE 92 6.3. ERGEBNISSE 95 6.3.1. ABHAENGIGKEIT VOM SPITZENZUSTAND 95 6.3.2. KRAFTUNTERSCHIEDE ZWISCHEN DEN ADATOMEN 97 II IMAGE 3 INHALTSVERZEICHNIS 6.4. DISKUSSION 102 6.4.1. EINFIUSS DER VAN-DER-WAALS-KRAFT AUF NICHT GLEICHFOERMIGEN OBER FLAECHEN 102 6.4.2. KONTRAST DER CHEMISCHEN KRAFT 106 7. ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK 109 A. ANHANG 1 1 3 A.L. IMPLEMENTIERUNG DER KRAFTENTFALTUNG 113 A.L.L. SADER-JARVIS-METHODE 113 A.L.2. MATRIX-METHODE 115 A.2. SKRIPT ZUR AUFNAHME DER DATEN 117 A.3. SKRIPT ZUR AUSWERTUNG DER DATEN 118 LITERATURVERZEICHNIS 122 III
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