(2012). Atomic force microscopy: Understanding basic modes and advanced applications. Wiley-Blackwell.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, NJ: Wiley-Blackwell, 2012.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications. Wiley-Blackwell, 2012.
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