He, M., & Lu, T. (2012). Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. Springer. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1812-2
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)He, Ming, und Toh-Ming Lu. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. New York, NY [u.a.]: Springer, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1812-2.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)He, Ming, und Toh-Ming Lu. Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics: Thermal and Electrical Stability. Springer, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1812-2.
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