Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration:
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Bibliographic Details
Main Author: Jaeschke, Johannes (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: Stuttgart Fraunhofer-Verl. 2012
Subjects:
Online Access:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Physical Description:XVII, 141 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9783839604311
3839604311

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