Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Jaeschke, Johannes (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Stuttgart Fraunhofer-Verl. 2012
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XVII, 141 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9783839604311
3839604311

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