Jaeschke, J. (2012). Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration. Fraunhofer-Verl.
Chicago Style (17th ed.) CitationJaeschke, Johannes. Bewertung Der Lebensdauer Von Lotverbindungen Unter Betrachtung Des Fehlermechanismus Elektromigration. Stuttgart: Fraunhofer-Verl, 2012.
MLA (9th ed.) CitationJaeschke, Johannes. Bewertung Der Lebensdauer Von Lotverbindungen Unter Betrachtung Des Fehlermechanismus Elektromigration. Fraunhofer-Verl, 2012.
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