Optische Messtechnik:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Borsdorf
Ed. Winterwork
2012
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltstext Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | XII, 466 S. graph. Darst. 21 cm, 630 g |
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IMAGE 1
I N H A L T S V E R Z E I C H N I S
1. E I N F UE H R U N G 1
1.1. MEILENSTEINE DER GESCHICHTE 1
1.2. LICHTMODELLE 2
2. LINSEN 3
2.1. BRECHUNG 3
2.1.1. LICHTGESCHWINDIGKEIT 3
2.1.2. BRECHUNGSGESETZ 4
2.2. MATRIXDARSTELLUNG 6
2.2.1. DEFINITIONEN. A N N A H M E N U N D NAEHERUNGEN 6
2.2.2. TRANSFORMATIONEN 9
2.2.3. LINSE 11
2.3. D UE N N E LINSE 12
2.3.1. VORAUSSETZUNGEN 12
2.3.2. KONSTRUKTIONSREGELN 13
2.3.3. ABBILDUNG 17
2.4. DICKE LINSE 2 3
2.5. LINSENKOMBINATIONEN 27
2.5.1. ZWEI D UE N N E LINSEN KURZ HINTEREINANDER 27
2.5.2. ZWEI D UE N N E LINSEN M I T A B S T A N D D 28
2.5.3. AEHNLICHKEIT VON ZWEI D UE N N E N LINSEN U N D EINER DICKEN LINSE
3 3 2.5.4. ZWEI DICKE LINSEN M I T A B S T A N D D 34
2.5.5. ERSATZLINSEN 36
2.6. OPTISCHE G E R AE T E 36
2.6.1. EINFACHE OPTISCHE G E R AE T E 36
2.6.2. ZUSAMMENGESETZTE OPTISCHE G E R AE T E 38
2.6.3. VERGROESSERUNG 40
2.6.4. SEHWINKEL 42
2.6.5. NUMERISCHE A P E R T U R 4 3
2.7. LINSENFEHLER 44
2.7.1. SPHAERISCHE ABERRATION (OEFFNUNGSFEHLER) 44
2.7.2. K O M A (ASYMMETRIEFEHLER) 45
2.7.3. A S T I G M A T I S M U S 46
2.7.4. BILDFELDWOELBUNG 47
2.7.5. VERZEICHNUNG 4 8
V I I
HTTP://D-NB.INFO/1024256995
IMAGE 2
INHALTSVERZEICHNIS
2.7.6. CHROMATISCHE A B E R R A T I O N 48
2.7.7. MODELL PARAXIALER STRAHLEN 50
2.8. RAYTRACING 50
2.8.1. DEFINITIONEN U N D VEREINBARUNGEN 50
2.8.2. BERECHNUNGEN 51
2.8.3. P R O G R A M M 54
2.9. OKULARE U N D OBJEKTIVE 60
2.9.1. OKULARE 61
2.9.2. OBJEKTIVE 62
3. P O S I T I O N S - , L A G E - U N D F O R M M E S S U N G 6 3
3.1. LOCHKAMERA 6 3
3.1.1. IDEALE LOCHKAMERA 6 3
3.1.2. REALE LOCHKAMERA 65
3.1.3. C A M E R A O B S C U R A 68
3.2. TRIANGULATION 69
3.3. BILDSENSOREN 70
3.3.1. PUNKTSENSOREN 70
3.3.2. SPALT- U N D QUADRANTENSENSOREN 72
3.3.3. LATERALEFFEKTDIODE (POSITION SENSITIVE DEVICE / DETECTOR, P S D )
'. 73
3.3.4. MULTIDETEKTORZEILE (ZEILENKAMERA) 75
3.3.5. MATRIXKAMERA 81
3.4. SCHEIMPFLUG-ANORDNUNG 85
3.5. STREIFENPROJEKTION 88
3.6. MOIRE-VERFAHREN 90
3.7. KOORDINATENTRANSFORMATION 102
3.7.1. KOORDINATENSYSTEME 102
3.7.2. VERSCHIEBUNG 103
3.7.3. R O T A T I O N 103
3.7.4. ZENTRALPROJEKTION 104
3.7.5. BILDSENSOR 105
3.7.6. ZUSAMMENFASSUNG 105
3.8. KALIBRIERUNG 106
3.8.1. DIREKTE LINEARE TRANSFORMATION 106
3.8.2. POLYNOMAPPROXIMATION 114
3.8.3. KALIBRIERUNGSBILDER 115
3.9. POSITIONS- U N D LAGEBESTIMMUNG DER K A M E R A 116
3.10. POSITIONSBESTIMMUNG VON O B J E K T E N 117
3.10.1. P R O J E K T I O N EINER O B J E K T E B E N E 117
3.10.2. P R O J E K T I O N DES R A U M E S 117
3.10.3. STEREOSKOPIE 119
3.10.4. ALTERNATIVE M E T H O D E N Z U M E R H A L T DER
TIEFENINFORMATION . 119
V I I I
IMAGE 3
INHALTSVERZEICHNIS
3.11. P H O T O G R A M M E T R I E 120
3.12. AUTOFOKUS 121
4. B E W E G U N G S M E S S U N G 1 2 3
4.1. PRINZIP 123
4.1.1. HOCHGESCHWINDIGKEITSKAMERAS 123
4.1.2. DOPPELAUFNAHMEKAMERA 124
4.1.3. ABBILDENDE BEWEGUNGSBESTIMMUNG 124
4.2. BEWEGUNGSVISUALISIERUNG 126
4.3. PARTICLE TRACKING VELOCIMETRY ( P T V ) 127
4.4. 3D PARTICLE TRACKING 130
4.5. PARTICLE IMAGE VELOCIMETRY (PIV) 133
4.6. OPTISCHER FLUSS 137
4.7. LASER SPECKLE VELOCIMETRY (LSV) 138
4.8. IMAGE P A T T E R N CORRELATION TECHNIQUE ( I P C T ) 140
5. E L E K T R O M A G N E T I S C H E W E L L E 1 4 1
5.1. ELEKTRODYNAMIK 141
5.1.1. MAXWELL-GLEICHUNGEN 141
5.1.2. MATERIALGLEICHUNGEN (FUER LINEARE, RAEUMLICH U N D ZEITLICH HO
MOGENE MEDIEN) 141
5.1.3. WELLEN 142
5.1.4. AUSBREITUNG 142
5.1.5. INTENSITAET 142
5.2. E B E N E HARMONISCHE ELEKTROMAGNETISCHE WELLE 143
5.2.1. ZEITLICHE ODER RAEUMLICHE HARMONISCHE SCHWINGUNG 143
5.2.2. PROPAGIERENDE WELLE 144
5.2.3. DREIDIMENSIONALE EBENE HARMONISCHE ELEKTROMAGNETISCHE WEL LE 145
5.2.4. KOMPLEXE ERWEITERUNG 146
5.3. BRECHUNGSGESETZ 147
5.4. POLARISATION 148
5.4.1. POLARISATION EINER EBENEN HARMONISCHEN ELEKTROMAGNETISCHEN WELLE
148
5.4.2. DARSTELLUNGSKONVENTIONEN 153
5.4.3. STOKES-PARAMETER 153
5.4.4. ABSORPTIONSPOLARISATIONSFILTER 156
5.5. FRESNEL-GLEICHUNGEN 158
5.5.1. AMPLITUDENKOEFFIZIENTEN 158
5.5.2. INTENSITAETSKOEFFIZIENTEN 167
5.5.3. BILANZEN DER INTENSITAETEN 170
5.5.4. STRAHLTEILERPLATTE 172
5.5.5. ANTIREFLEXBESCHICHTUNG 172
I X
IMAGE 4
INHALTSVERZEICHNIS
5.5.6. REFLEXIONSPOLARISATIONSFILTER 177
5.5.7. ELLIPSOMETRIE 178
5.6. TOTALREFLEXION 179
5.6.1. GRENZWINKEL DER TOTALREFLEXION 179
5.6.2. EVANESZENTE WELLE 179
5.6.3. STRAHLTEILERWUERFEL 181
5.6.4. A T T E N U A T E D TOTAL REFLECTION (ATR) INFRARED SPECTROSCOPY
182 5.6.5. TOTAL INTERNAL REFLECTION FLUORESCENCE ( T I R F ) MICROSCOPY
183 5.7. DOPPELBRECHUNG 184
5.7.1. POLARISATIONSSTRAHLTEILER 185
5.7.2. VERZOEGERUNGSPLATTEN 186
5.7.3. POLARISATIONSERHAITENDER LICHTARM 196
5.7.4. OPTISCHER ISOLATOR 197
5.7.5. POLARISATIONSMODULATOREN 197
5.8. INTERFERENZ 201
5.8.1. SUPERPOSITION VON LICHTWELLEN 201
5.8.2. BEDINGUNGEN FUER INTERFERENZ 203
5.8.3. INTERFEROMETER 204
6. D I C H T E M E S S U N G 2 0 7
6.1. STRAHLENGANG 207
6.1.1. LOKALER BRECHUNGSINDEX 207
6.1.2. STRAHLABLENKUNG 208
6.2. SHADOWGRAPHY 210
6.3. SCHLIEREN 215
6.4. INTERFEROMETRISCHE DICHTEMESSUNG 219
6.4.1. MACH-ZEHNDER-INTERFEROMETER 219
6.4.2. SCHLIEREN-INTERFEROMETER / DIFFERENTIALINTERFEROMETER . . . . 224
6.5. BACKGROUND ORIENTED SCHLIEREN (BOS) 225
6.6. UEBERSICHT 227
7. E N T F E R N U N G S M E S S U N G 2 2 9
7.1. INTERFEROMETER 229
7.1.1. MESSPRINZIP 229
7.1.2. RICHTUNGSERKENNUNG U N D SUBWELLENLAENGENAUFLOESUNG . . . . 232
7.1.3. UE B E R W I N D U N G DER 27R-MEHRDEUTIGKEIT 233
7.2. L I D A R (LIGHT DETECTION A N D RANGING) 237
7.2.1. MESSPRINZIP 237
7.2.2. AUFBAU 238
7.2.3. LIDAR-SCANNER 239
7.2.4. LAU'FZEITMESSUNG 240
7.3. INTENSITAETSMODULATION 242
7.3.1. MESSPRINZIP 242
X
IMAGE 5
INHALTSVERZEICHNIS
7.3.2. PHASENDIFFERENZMESSUNG 243
7.4. T O F - K A M E R A (TIME OF FLIGHT) 244
7.5. PROFILOMETER 250
7.5.1. KONFOKALMIKROSKOP 251
7.5.2. RICHTUNGSERKENNUNG M I T ASTIGMATISCHER LINSE 252
7.5.3. FOUCAULT :SCHES SCHNEIDENVERFAHREN 253
7.5.4. WEISSLICHT INTERFEROMETER 254
7.6. UEBERSICHT ENTFERNUNGSMESSUNG 255
8. G E S C H W I N D I G K E I T S M E S S U N G 2 5 7
8.1. DOPPLER-VERSCHIEBUNG 257
8.1.1. BEWEGTER EMPFAENGER 257
8.1.2. BEWEGTER SENDER 257
8.1.3. S T R E U U N G A N STOERSTELLE/TEILCHEN 257
8.1.4. SENKRECHTE REFLEXION A N BEWEGTEM O B J E K T 259
8.1.5. VEKTORIELLE DARSTELLUNG 259
8.2. VIBROMETER 261
8.2.1. MESSPRINZIP 261
8.2.2. BRAGG-ZELLE (AOM. ACOUSTO-OPTIC MODULATOR) 263
8.2.3. FREQUENZMESSUNG 267
8.3. D G V / P D V 273
8.3.1. PRINZIP 273
8.3.2. JOD-ABSORPTIONSZELLE 274
8.3.3. KALIBRIERUNG U N D REFERENZMESSUNG 279
8.3.4. WEITERENTWICKLUNGEN 280
8.4. GAUSS-STRAHL 282
8.4.1. HUYGENSSCHES PRINZIP 282
8.4.2. WELLENAUSBREITUNG U N D -UEBERLAGERUNG 284
8.4.3. EXPLIZITE FORMULIERUNG 287
8.4.4. ABBILDUNG DURCH LINSEN 295
8.5. LASER-2-FOCUS (L2F) A N E M O M E T R Y / VELOCIMETRY 298
8.6. LASER DOPPLER A N E M O M E T R Y / VELOCIMETRY (LDA / LDV) 300
8.6.1. AUFBAU 300
8.6.2. SIGNALENTSTEHUNG 300
8.6.3. LDA-MESSVOLUMEN 302
8.6.4. SIGNAL (BURST) 304
8.6.5. SIGNALVERARBEITUNG 305
8.6.6. FREQUENZVERSCHIEBUNG 309
8.6.7. WEITERENTWICKLUNGEN 313
8.6.8. EIGENSCHAFTEN DES DATENSATZES 314
X I
IMAGE 6
INHAL TSVERZEI CHNIS
A. S U B P I X E L S C H AE T Z U N G 3 1 7
A . L . MODELLFUNKTIONEN 317
A . L . L . MODELLFUNKTION DER TEILCHENABBILDUNG 317
A.L.2. MODELLFUNKTION DER BILDWANDLUNG 319
A.L.3. TESTMODELL 320
A.2. POSITIONSSCHAETZUNG M I T SUBPIXELGENAUIGKEIT ( P T V ) 321
A.2.1. EINDIMENSIONALE POSITIONSSCHAETZUNG M I T SUBPIXELGENAUIGKEIT 321
A.2.2. ZWEIDIMENSIONALE POSITIONSSCHAETZUNG M I T SUBPIXELGENAUIG KEIT
330
A.3. BEWEGUNGSSCHAETZUNG M I T SUBPIXELGENAUIGKEIT (PIV) 347
A.3.1. BEWEGUNG VON EINZELTEILCHEN 347
A.3.2. BEWEGUNG EINES TEILCHENENSEMBLES 357
B. I T E R A T I V E V E R F A H R E N U N D R AE U M L I C H E A U F L OE
S U N G BEI P I V 3 8 3
B . L . DEFORMATION DER ABFRAGEFENSTER 383
B . L . L . VERFAHREN 383
B.1.2. SUBPIXELBILDINTERPOLATION 386
B.L.3. VERGLEICH DER VERFAHREN 393
B.L.4. BEWEGUNG SENKRECHT ZUR LICHTSCHNITTEBENE (OUT-OF-PLANE) . 393
B.2. RAEUMLICHE AUFLOESUNG 395
B.2.1. UEBERLAPPUNG DER ABFRAGEFENSTER 395
B.2.2. INTERPOLATION DES BEWEGUNGSFELDES 396
B.2.3. AMPLITUDENFREQUENZGANG 397
B.2.4. GRENZEN DER RAEUMLICHEN AUFLOESUNG 399
B.3. ITERATIVE SUBPIXELBILDVERSCHIEBUNG U N D -DEFORMATION 404
B.3.1. VERFAHREN 404
B.3.2. BANDBREITE U N D SCHAETZFEHLER 412
C. L D A - D A T E N V E R A R B E I T U N G 4 1 5
C . L . STATISTISCHE ANALYSE STOCHASTISCH ABGETASTETER D A T E N 415
C . L . L . WAHRSCHEINLICHKEITSDICHTE 415
C.L.2. KUMULATIVE VERTEILUNGSFUNKTION, STATISTISCHE MOMENTE . . 416
C.L.3. AUTOKORRELATIONSFUNKTION U N D SPEKTRALE LEISTUNGSDICHTE . . 421
C.2. STATISTISCHE FEHLER (GESCHWINDIGKEITSBIAS) 438
C.2.1. WAHRSCHEINLICHKEITSDICHTE 438
C.2.2. KUMULATIVE VERTEILUNGSFUNKTION, STATISTISCHE M O M E N T E . .
440 C.2.3. GEWICHTUNG 442
C.2.4. AUTOKORRELATIONSFUNKTION U N D SPEKTRALE LEISTUNGSDICHTE . . 452
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| discipline | Maschinenbau / Maschinenwesen Physik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik / Mechatronik |
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