Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Fan, Yongquan (VerfasserIn), Zilic, Zeljko (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Dordrecht [u.a.] Springer 2011
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FAB01
FHA01
FHI01
FHN01
FHR01
FKE01
FWS01
FWS02
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource
ISBN:9789048193981
DOI:10.1007/978-90-481-9398-1