APA-Zitierstil (7. Ausg.)

(2010). Advanced test methods for SRAMs: Effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies. Springer.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. New York: Springer, 2010.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies. Springer, 2010.

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