5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-V): [... held in Albany NY, USA from May 23 to May 29, 2010]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Spectroscopic Ellipsometry Albany, NY (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam Elsevier 2011
Schriftenreihe:Thin solid films 519,9
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zs.-Heftes
Beschreibung:VII S., S. 2569 - 3005 Ill., graph. Darst.

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