4. Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011: Messprinzipien - Mess geräte - Anwendungen ; Erlangen, 25. und 26. Oktober 2011
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Erlangen (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:German
English
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 2011
Ausgabe:Nichtred. Ms.-Dr.
Schriftenreihe:VDI-Berichte 2133
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Beschreibung:244 S. Ill., graph. Darst. 21 cm
ISBN:9783180921334

THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal

Bestandesangaben von THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal
Signatur: 2000 ZQ 3950 F139
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