Riedlberger, E. (2011). Analyse und Modellierung des Alterungsverhaltens Lateraler DMOS-Transistoren bei Belastung durch heiße Ladungsträger.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Riedlberger, Eva. Analyse Und Modellierung Des Alterungsverhaltens Lateraler DMOS-Transistoren Bei Belastung Durch Heiße Ladungsträger. 2011.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Riedlberger, Eva. Analyse Und Modellierung Des Alterungsverhaltens Lateraler DMOS-Transistoren Bei Belastung Durch Heiße Ladungsträger. 2011.
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