Zuverlässigkeit und Entwurf: 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM
Gespeichert in:
Weitere Verfasser: | |
---|---|
Format: | Tagungsbericht Buch |
Sprache: | German English |
Veröffentlicht: |
Berlin ; Offenbach
VDE-Verl.
2011
|
Schriftenreihe: | ITG-Fachbericht
231 |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
Beschreibung: | Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben |
Beschreibung: | 150 S. graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM |
ISBN: | 9783800733576 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV039598376 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 00000000000000.0 | ||
007 | t | ||
008 | 110923s2011 d||| |||| 10||| ger d | ||
015 | |a 11,N35 |2 dnb | ||
015 | |a 11,A39 |2 dnb | ||
016 | 7 | |a 1014556236 |2 DE-101 | |
020 | |a 9783800733576 |c kart. : EUR 92.00 (DE), EUR 94.60 (AT) |9 978-3-8007-3357-6 | ||
024 | 3 | |a 9783800733576 | |
028 | 5 | 2 | |a Best.-Nr.: 453357 |
035 | |a (OCoLC)754089307 | ||
035 | |a (DE-599)DNB1014556236 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger |a eng | |
049 | |a DE-83 |a DE-706 |a DE-92 |a DE-739 | ||
082 | 0 | |a 621.395 |2 22/ger | |
082 | 0 | |a 621.381 |2 22/ger | |
084 | |a ZN 4040 |0 (DE-625)157343: |2 rvk | ||
084 | |a 620 |2 sdnb | ||
084 | |a 621.3 |2 sdnb | ||
245 | 1 | 0 | |a Zuverlässigkeit und Entwurf |b 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM |c [Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler |
264 | 1 | |a Berlin ; Offenbach |b VDE-Verl. |c 2011 | |
300 | |a 150 S. |b graph. Darst. |c 30 cm |e 1 CD-ROM | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a ITG-Fachbericht |v 231 | |
500 | |a Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben | ||
650 | 0 | 7 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Mikroelektronik |0 (DE-588)4039207-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Robustheit |0 (DE-588)4126481-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Sicherheitskritisches System |0 (DE-588)4767762-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Ausbeute |0 (DE-588)4208661-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehlertoleranz |0 (DE-588)4123192-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 2011 |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Sicherheitskritisches System |0 (DE-588)4767762-4 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Mikroelektronik |0 (DE-588)4039207-7 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Robustheit |0 (DE-588)4126481-2 |D s |
689 | 0 | 5 | |a Fehlertoleranz |0 (DE-588)4123192-2 |D s |
689 | 0 | 6 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |D s |
689 | 0 | 7 | |a Ausbeute |0 (DE-588)4208661-9 |D s |
689 | 0 | 8 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
700 | 1 | |a Sattler, Sebastian |4 edt | |
710 | 2 | |a Gesellschaft für Informatik |e Sonstige |0 (DE-588)2011903-3 |4 oth | |
711 | 2 | |a Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf |d 2011 |c Hamburg-Harburg |j Sonstige |0 (DE-588)16182280-0 |4 oth | |
830 | 0 | |a ITG-Fachbericht |v 231 |w (DE-604)BV001897708 |9 231 | |
856 | 4 | 2 | |m B:DE-101 |q application/pdf |u http://d-nb.info/1014556236/04 |3 Inhaltsverzeichnis |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024449319 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804148436600094720 |
---|---|
any_adam_object | |
author2 | Sattler, Sebastian |
author2_role | edt |
author2_variant | s s ss |
author_facet | Sattler, Sebastian |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV039598376 |
classification_rvk | ZN 4040 |
ctrlnum | (OCoLC)754089307 (DE-599)DNB1014556236 |
dewey-full | 621.395 621.381 |
dewey-hundreds | 600 - Technology (Applied sciences) |
dewey-ones | 621 - Applied physics |
dewey-raw | 621.395 621.381 |
dewey-search | 621.395 621.381 |
dewey-sort | 3621.395 |
dewey-tens | 620 - Engineering and allied operations |
discipline | Maschinenbau / Maschinenwesen Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
format | Conference Proceeding Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02919nam a2200685 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV039598376</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">110923s2011 d||| |||| 10||| ger d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">11,N35</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">11,A39</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">1014556236</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783800733576</subfield><subfield code="c">kart. : EUR 92.00 (DE), EUR 94.60 (AT)</subfield><subfield code="9">978-3-8007-3357-6</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="3" ind2=" "><subfield code="a">9783800733576</subfield></datafield><datafield tag="028" ind1="5" ind2="2"><subfield code="a">Best.-Nr.: 453357</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)754089307</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)DNB1014556236</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.395</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.381</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4040</subfield><subfield code="0">(DE-625)157343:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">620</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">621.3</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Zuverlässigkeit und Entwurf</subfield><subfield code="b">5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM</subfield><subfield code="c">[Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin ; Offenbach</subfield><subfield code="b">VDE-Verl.</subfield><subfield code="c">2011</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">150 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield><subfield code="c">30 cm</subfield><subfield code="e">1 CD-ROM</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">ITG-Fachbericht</subfield><subfield code="v">231</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039207-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Robustheit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4126481-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sicherheitskritisches System</subfield><subfield code="0">(DE-588)4767762-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ausbeute</subfield><subfield code="0">(DE-588)4208661-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlertoleranz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123192-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">2011</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Sicherheitskritisches System</subfield><subfield code="0">(DE-588)4767762-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039207-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Robustheit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4126481-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Fehlertoleranz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123192-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="6"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ausbeute</subfield><subfield code="0">(DE-588)4208661-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="8"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Sattler, Sebastian</subfield><subfield code="4">edt</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Gesellschaft für Informatik</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)2011903-3</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="711" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf</subfield><subfield code="d">2011</subfield><subfield code="c">Hamburg-Harburg</subfield><subfield code="j">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)16182280-0</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">ITG-Fachbericht</subfield><subfield code="v">231</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV001897708</subfield><subfield code="9">231</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">B:DE-101</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://d-nb.info/1014556236/04</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024449319</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2011 gnd-content |
genre_facet | Konferenzschrift 2011 |
id | DE-604.BV039598376 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-10T00:07:06Z |
institution | BVB |
institution_GND | (DE-588)2011903-3 (DE-588)16182280-0 |
isbn | 9783800733576 |
language | German English |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-024449319 |
oclc_num | 754089307 |
open_access_boolean | |
owner | DE-83 DE-706 DE-92 DE-739 |
owner_facet | DE-83 DE-706 DE-92 DE-739 |
physical | 150 S. graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM |
publishDate | 2011 |
publishDateSearch | 2011 |
publishDateSort | 2011 |
publisher | VDE-Verl. |
record_format | marc |
series | ITG-Fachbericht |
series2 | ITG-Fachbericht |
spelling | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM [Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler Berlin ; Offenbach VDE-Verl. 2011 150 S. graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier ITG-Fachbericht 231 Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd rswk-swf Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd rswk-swf Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd rswk-swf Robustheit (DE-588)4126481-2 gnd rswk-swf Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd rswk-swf Testen (DE-588)4367264-4 gnd rswk-swf Sicherheitskritisches System (DE-588)4767762-4 gnd rswk-swf Ausbeute (DE-588)4208661-9 gnd rswk-swf Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2011 gnd-content Sicherheitskritisches System (DE-588)4767762-4 s Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 s Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 s Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 s Robustheit (DE-588)4126481-2 s Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 s Testen (DE-588)4367264-4 s Ausbeute (DE-588)4208661-9 s Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 s DE-604 Sattler, Sebastian edt Gesellschaft für Informatik Sonstige (DE-588)2011903-3 oth Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2011 Hamburg-Harburg Sonstige (DE-588)16182280-0 oth ITG-Fachbericht 231 (DE-604)BV001897708 231 B:DE-101 application/pdf http://d-nb.info/1014556236/04 Inhaltsverzeichnis |
spellingShingle | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM ITG-Fachbericht Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd Robustheit (DE-588)4126481-2 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd Sicherheitskritisches System (DE-588)4767762-4 gnd Ausbeute (DE-588)4208661-9 gnd Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4133764-5 (DE-588)4059245-5 (DE-588)4039207-7 (DE-588)4126481-2 (DE-588)4312536-0 (DE-588)4367264-4 (DE-588)4767762-4 (DE-588)4208661-9 (DE-588)4123192-2 (DE-588)1071861417 |
title | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM |
title_auth | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM |
title_exact_search | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM |
title_full | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM [Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler |
title_fullStr | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM [Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler |
title_full_unstemmed | Zuverlässigkeit und Entwurf 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM [Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf]. Veranst.: Gesellschaft für Informatik (GI) ... Tagungsleiter: Sebastian Sattler |
title_short | Zuverlässigkeit und Entwurf |
title_sort | zuverlassigkeit und entwurf 5 gi gmm itg fachtagung vom 27 bis 29 september 2011 in hamburg harburg mit cd rom |
title_sub | 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg ; mit CD-ROM |
topic | Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd Robustheit (DE-588)4126481-2 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd Sicherheitskritisches System (DE-588)4767762-4 gnd Ausbeute (DE-588)4208661-9 gnd Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd |
topic_facet | Fehlererkennung Zuverlässigkeit Mikroelektronik Robustheit Entwurfsautomation Testen Sicherheitskritisches System Ausbeute Fehlertoleranz Konferenzschrift 2011 |
url | http://d-nb.info/1014556236/04 |
volume_link | (DE-604)BV001897708 |
work_keys_str_mv | AT sattlersebastian zuverlassigkeitundentwurf5gigmmitgfachtagungvom27bis29september2011inhamburgharburgmitcdrom AT gesellschaftfurinformatik zuverlassigkeitundentwurf5gigmmitgfachtagungvom27bis29september2011inhamburgharburgmitcdrom AT fachtagungzuverlassigkeitundentwurfhamburgharburg zuverlassigkeitundentwurf5gigmmitgfachtagungvom27bis29september2011inhamburgharburgmitcdrom |