Systemintegration in der Mikroelektronik: Zuverlässigkeit multifunktionaler Elektronikbaugruppen - moderne Analysemethoden und Teststrategien ; Messe & Kongress, Nürnberg 3. - 5. Mai 2011 ; [Proceedings 2011]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Lang, Klaus-Dieter 1954- (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht Software E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin ; Offenbach VDI-Verl. 2011
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:1 CD-ROM, 12 cm

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