Efficient and predictive deterministic multisubband device simulations for strained nanoscale PMOSFETs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pham, Anh-Tuan (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 2010
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 165 S. graph. Darst. 21 cm

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