Test und Selbsttest von analogen Auswerteelektroniken bei Sensorsystemen in der Betriebsphase:
Gespeichert in:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Logos
2008
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| Beschreibung: | X, 131 S. graph. Darst. 20 cm |
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INHALTSVERZEICHNIS
1 EINLEITUNG 1
2 INTEGRIERTE, INTELLIGENTE SENSOREN 3
2.1 ALLGEMEINE EINFUEHRUNG 3
2.2 MIKROMECHANISCHE SENSORELEMENTE 5
2.3 SIGNALVERARBEITUNG INTEGRIERTER, INTELLIGENTER SENSOREN 8
2.3.1 ANALOGE SIGNALVORVERARBEITUNG 8
2.3.2 GENERISCHE, VOLLDIFFERENTIELLE AUSWERTESCHALTUNGEN FUR SENSOREN 16
2.4 KOMMUNIKATION IN SENSORSYSTEMEN 17
2.4.1 ETABLIERTE SENSORBUSSE 17
2.4.2 SIMPLE BUSSE FUER INTELLIGENTE SENSOREN 20
2.4.3 STANDARDISIERTE SMART SENSOR KOMMUNIKATION 21
2.4.4 MIKROSYSTEME IN DRAHTLOSEN NETZWERKEN 24
2.4.5 INTELLIGENTE SENSOREN IN ZUKUENFTIGEN DRAHTLOSEN NETZWERKEN 27
3 DEFEKTE UND FEHLERMODELLIERUNG BEI INTEGRIERTEN,
INTELLIGENTEN SENSOREN 29
3.1 ALLGEMEINE EINFUEHRUNG 29
3.2 MOTIVATION FUER EINEN TEST IN DER BETRIEBSPHASE 32
3 J DEFEKTE INTEGRIERTER, INTELLIGENTER SENSOREN IN DER BETRIEBSPHASE 34
3.4 BEWERTUNGSKRITERIEN FUER TESTMETHODEN 38
3.5 FEHLERMODELLIERUNG 39
3.5.1 DEFEKTORIENTIERTE FEHLERMODEUE FUER ANALOGE SCHALTUNGEN __ 40
3.5.2 HIERARCHISCHE FEHLERMODELUEENING FUER ANALOGE SCHALTUNGEN 46
3.5.3 DEFEKTORIENTIERTE FEHLERMODELLE FUER MIKROMECHANISCHE KOMPONENTEN
47
4 TESTMETHODEN FUER INTEGRIERTE, INTELLIGENTE SENSOREN IN DER
BETRIEBSPHASE 51
4.1 TESTPROBLEM INTEGRIERTER, INTELLIGENTER SENSOREN IN DER
BETRIEBSPHASE 51
4.2 ZUVERLAESSIGKEITSINDIKATOREN S3
43 REDUNDANZEN . ................................................ 55
4.4 FUNKTIONALE TESTS. ...... 56
43 HARDWARE BIST 59
4.5.1 DESIGN FOR TESTABILITY FUER ANALOGE SCHALTUNGSKOMPONENTEN 60
4.5 2 BUILT-IN SEIF TEST FUER GEMISCHT ANALOG-DIGITALE SCHALTUNGEN. 63
4.6 CODE CHECKEN DFT FUER AUSWERTEELEKTRONIKEN INTEGRIERTER SENSOREN . 71
4.6.1 VOLIDIFFERENTIEHE OPERATIONSVERSTAERKER * 7!
4.6.2 CODE CHECKER FUER VOLLDIFFERENTIELLE OPS *. *. 77
4.6.3 BALANCE CHECKER FUER VOLLDIFFERENTIELLE ANALOGE
AUSWERTEELEKTRONIKEN.... .* 80
4.7 EIN NEUER TESTANSATZ: D IE BEOBACHTUNG DER
GLEICHTAKTREGELUNG............ .........81
GESCANNT DURCH
BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN HTTP://D-NB.INFO/990541894
DIGITALISIERT DURCH
IMAGE 2
5 DIE REALISIERUNG EINER V0LLD1FFERENTIELLEN
AUSWERTEELEKTRONIK FUER EINEN INTEGRIERTEN SENSOR 83 5.1 ZIELSETZUNG 83
5.2 SYSTEMSTRUKTUR 83
53 REALISIERUNG DER ANALOGEN AUSWERTEELEKTRONIK 84
5.3.1 DIE VOLLDIFFERENTIELLE EINGANGSSTUFE 85
5.3.2 DIE WEITEREN SCHALTUNGSKOMPONENTEN 92
5.3.3 DIE STEUERUNG DER REFERENZSPANNUNGEN 93
5.4 R E - D E S I GN DER E R Z E U G U NG D ER REFERENZSPANNUNG 95
6 VEREINFACHTE FEHLERSIMULATION ANALOGER SCHALTUNGEN 99
6.1 AUTOMATISIERTE FEHLERSIMULATION 99
6.2 NEUER ANSATZ ZUR AUTOMATISIERUNG DER FEHLERSIMULATION AUF
TRANSISTOREBENE 102 63 DAS VERWENDETE FEHLERMODELL 106
7 UNTERSUCHUNGEN ZU NEUEN TESTANSAETZEN FUER ANALOGE VOLLDIFFERENTIELLE
AUSWERTEELEKTRONIKEN 109 7.1 DIE REGELUNG DER REFERENZSPANNUNG ALS
FEHLERINDIKATOR 109
7.2 DEFINITION DES TOLERANZBEREICHES 112
73 AUSWERTUNG DER FEHLERSIMULATION 113
8 ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK 121
LITERATURVERZEICHNIS 125
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