APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Breitenstein, O., Warta, W., & Langenkamp, M. (2010). Lock-in thermography: Basics and use for evaluating electronic devices and materials (2. ed.). Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Breitenstein, Otwin, Wilhelm Warta, und Martin Langenkamp. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. 2. ed. Berlin [u.a.]: Springer, 2010. https://doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Breitenstein, Otwin, et al. Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. 2. ed. Springer, 2010. https://doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7.