Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf der Silicium- und Kohlenstoffseite von 4H-Siliciumcarbid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Grieb, Michael 1980- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Shaker 2010
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Erlanger Berichte Mikroelektronik 2010,1
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:V, 116 S. Ill., graph. Darst. 210 mm x 148 mm, 189 g
ISBN:9783832294113

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