Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mikla, Victor I. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 2010
Ausgabe:1st ed.
Schriftenreihe:Elsevier insights
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references
Beschreibung:VI, 120 S. graph. Darst.

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