Pattern recognition: 32nd DAGM Symposium, Darmstadt, Germany, September 22-24, 2010 ; proceedings
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Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 2010
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 6376
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XXI, 574 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3642159850
9783642159855

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