Elektrische Charakterisierung von Fe-korrelierten Störstellen in p-dotiertem 4H-SiC:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hollweck, Richard (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2010
Ausgabe:[Maschinenschrift]
Schlagworte:
Beschreibung:39 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!