Defects in semiconductors II: symposium held November 1982 in Boston, Mass., USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY [u.a.] North-Holland 1983
Schriftenreihe:Materials Research Society symposia proceedings 14
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:582 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0444008128

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