Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Goldstein, Joseph 1939-2015 (MitwirkendeR)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Kluwer Academic/Plenum Publishers 2003
Ausgabe:3. ed.
Schlagworte:
Online-Zugang:Cover
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XIX, 689 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:9780306472923
0306472929

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