Fehlermechanismen und Prüfverfahren miniaturisierter Lötverbindungen: Ergebnisbericht des BMBF-Verbundprojekts "Zerstörende und zerstörungsfreie Prüftechnik für die Charakterisierung von nanoskaligen Alterungsmechanismen an hochminiaturisierten Lötverbindungen"
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Templin Detert 2009
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:System integration in electronic packaging 9
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Literaturverz. S. 357 - 359
Beschreibung:X, 364 S. Ill., graph. Darst. 21 cm
ISBN:9783934142343

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