Models in hardware testing: Lecture notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: [Dordrecht] Springer 2010
Schriftenreihe:Frontiers in electronic testing 43
Schlagworte:
Beschreibung:XIII, 257 S.
ISBN:9789048132812

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