Verfügbarkeit: CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen

CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Maul, Thomas (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Göttingen Cuvillier 2009
Ausgabe:	1. Aufl.
Schlagworte:	MOS-FET CMOS Silicium Spitzenkathode Mikrosystemtechnik Feldemissionskathode Hochschulschrift
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:	X, 152 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9783869551760

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a2200000 c 4500
001	BV036031430
003	DE-604
005	00000000000000.0
007	t
008	100211s2009 ad\|\| m\|\|\| 00\|\|\| ger d
020			\|a 9783869551760 \|9 978-3-86955-176-0
035			\|a (OCoLC)643942544
035			\|a (DE-599)BVBBV036031430
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakwb
041	0		\|a ger
049			\|a DE-91 \|a DE-12
082	0		\|a 621.38152 \|2 22/ger
100	1		\|a Maul, Thomas \|e Verfasser \|0 (DE-588)138118965 \|4 aut
245	1	0	\|a CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen \|c Thomas Maul
250			\|a 1. Aufl.
264		1	\|a Göttingen \|b Cuvillier \|c 2009
300			\|a X, 152 S. \|b Ill., graph. Darst.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b n \|2 rdamedia
338			\|b nc \|2 rdacarrier
502			\|a Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009
650	0	7	\|a MOS-FET \|0 (DE-588)4207266-9 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a CMOS \|0 (DE-588)4010319-5 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Silicium \|0 (DE-588)4077445-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Spitzenkathode \|0 (DE-588)4182383-7 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Mikrosystemtechnik \|0 (DE-588)4221617-5 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Feldemissionskathode \|0 (DE-588)4263441-6 \|2 gnd \|9 rswk-swf
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a Feldemissionskathode \|0 (DE-588)4263441-6 \|D s
689	0	1	\|a Spitzenkathode \|0 (DE-588)4182383-7 \|D s
689	0	2	\|a Silicium \|0 (DE-588)4077445-4 \|D s
689	0	3	\|a Mikrosystemtechnik \|0 (DE-588)4221617-5 \|D s
689	0	4	\|a CMOS \|0 (DE-588)4010319-5 \|D s
689	0	5	\|a MOS-FET \|0 (DE-588)4207266-9 \|D s
689	0		\|5 DE-604
856	4	2	\|m DNB Datenaustausch \|q application/pdf \|u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018923495&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA \|3 Inhaltsverzeichnis
999			\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018923495

Datensatz im Suchindex

_version_	1804141054205624320
adam_text	INHALTSVERZEICHNIS ZUSAMMENFASSUNG V INHALTSVERZEICHNIS VIII 1 EINLEITUNG 1 2 FELDEMISSION 5 2.1 KLASSISCHE FELDEMISSION 5 2.2 FELDEMISSION AUS HALBLEITERN 8 2.3 EINFLUSSFAKTOREN 12 2.3.1 GEOMETRIE 12 2.3.2 AEUSSERE EINFLUESSE 16 2.3.3 THERMISCHE EFFEKTE 18 2.4 TECHNISCHE ANWENDUNG 22 3 FIELD EMITTER ARRAYS 25 3.1 UNGATED FIELD EMITTER ARRAYS 25 3.2 GATED FIELD EMITTER ARRAYS 26 3.3 SPINDT-TYPE-EMITTER 27 3.4 GEAETZTE EMITTER 28 3.5 KOHLENSTOFFNANOROEHREN UND ANDERE EMITTER 30 4 STABILISIERUNG DES FELDEMISSIONSSTROMS 33 4.1 DOTIERUNG 33 4.2 TRIODENSTRUKTUR 34 4.3 RESISTIVE BEGRENZUNG 36 4.4 EXTERNE BESCHALTUNG DURCH MOSFETS 38 4.4.1 FUNKTIONSWEISE DES MOSFETS 39 4.4.2 EXTERN VERBUNDENE MOSFETS 41 4.4.3 MOSFET-INTEGRIERTE EMITTER 41 5 STEUERWIRKUNG VON MOSFETS FUER FELDEMISSIONSANWENDUNGEN 49 5.1 TEST-DEVICE MOS-KAPAZITAET 49 5.2 FUNKTIONSWEISE UND AUFBAU 51 5.3 SIMULATIONEN 52 BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN HTTP://D-NB.INFO/999341057 DIGITALISIERT DURCH X INHALTSVERZEICHNIS 5.4 TECHNOLOGISCHE UMSETZUNG 53 5.5 ELEKTRISCHE CHARAKTERISIERUNG 55 6 UNTERSUCHUNGEN AN FELDEMISSIONSSPITZEN 59 6.1 FUNKTIONSWEISE UND AUFBAU 59 6.2 SIMULATIONEN 60 6.3 AETZTECHNIKEN 65 6.3.1 ANISOTROPES NASSCHEMISCHES AETZEN 66 6.3.2 TROCKENAETZEN 74 6.4 ABSCHEIDUNG VON FELDEMITTERN 78 6.4.1 KOHLENSTOFFBASIERTE EBID-EMITTER 78 6.4.2 METALLISCHE EBID-EMITTER 80 6.5 EXTRAKTIONSSTRUKTUREN 81 6.5.1 FREITRAGENDE EXTRAKTOREN 82 6.5.2 SELBSTJUSTIERENDE EXTRAKTOREN 90 6.6 ERMITTLUNG DES SPITZENRADIUS 95 6.6.1 RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE 95 6.6.2 RECHNERISCHE EXTRAKTION AUS DER KENNLINIE 97 7 MOSFET-INTEGRIERTE FELDEMISSIONSSPITZEN 99 7.1 FUNKTIONSWEISE UND AUFBAU 99 7.2 DEFINITION DES STANDARDPROZESSES 100 7.3 SIMULATIONEN 102 7.4 TECHNOLOGISCHE VARIANTEN 106 7.5 ELEKTRISCHE CHARAKTERISIERUNG 110 7.5.1 EXTERN VERBUNDENE MOSFETS 110 7.5.2 MOSFET-INTEGRIERTE EMITTER 111 8 DISKUSSION - STAERKEN UND SCHWAECHEN DER KONZEPTE 115 9 AUSBLICK 119 9.1 TECHNOLOGISCHE WEITERENTWICKLUNG 119 9.2 PRAKTISCHER EINSATZ MULTIPLER ELEKTRONENSTRAHLEN 120 A MASKEN-LAYOUT 121 B SIMULATIONS-QUELLTEXT FUER DAS EMITTER-BASISMODELL 125 FORMELZEICHEN UND ABKUERZUNGEN 127 VERZEICHNISSE 134 ABBILDUNGEN 134 TABELLE
any_adam_object	1
author	Maul, Thomas
author_GND	(DE-588)138118965
author_facet	Maul, Thomas
author_role	aut
author_sort	Maul, Thomas
author_variant	t m tm
building	Verbundindex
bvnumber	BV036031430
ctrlnum	(OCoLC)643942544 (DE-599)BVBBV036031430
dewey-full	621.38152
dewey-hundreds	600 - Technology (Applied sciences)
dewey-ones	621 - Applied physics
dewey-raw	621.38152
dewey-search	621.38152
dewey-sort	3621.38152
dewey-tens	620 - Engineering and allied operations
discipline	Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
edition	1. Aufl.
format	Thesis Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01869nam a2200469 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV036031430</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">100211s2009 ad\|\| m\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783869551760</subfield><subfield code="9">978-3-86955-176-0</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)643942544</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV036031430</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.38152</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Maul, Thomas</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)138118965</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen</subfield><subfield code="c">Thomas Maul</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1. Aufl.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Göttingen</subfield><subfield code="b">Cuvillier</subfield><subfield code="c">2009</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">X, 152 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4010319-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Spitzenkathode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4182383-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Feldemissionskathode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4263441-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Feldemissionskathode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4263441-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Spitzenkathode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4182383-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">CMOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4010319-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018923495&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018923495</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV036031430
illustrated	Illustrated
indexdate	2024-07-09T22:09:46Z
institution	BVB
isbn	9783869551760
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018923495
oclc_num	643942544
open_access_boolean
owner	DE-91 DE-BY-TUM DE-12
owner_facet	DE-91 DE-BY-TUM DE-12
physical	X, 152 S. Ill., graph. Darst.
publishDate	2009
publishDateSearch	2009
publishDateSort	2009
publisher	Cuvillier
record_format	marc
spelling	Maul, Thomas Verfasser (DE-588)138118965 aut CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen Thomas Maul 1. Aufl. Göttingen Cuvillier 2009 X, 152 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009 MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd rswk-swf CMOS (DE-588)4010319-5 gnd rswk-swf Silicium (DE-588)4077445-4 gnd rswk-swf Spitzenkathode (DE-588)4182383-7 gnd rswk-swf Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd rswk-swf Feldemissionskathode (DE-588)4263441-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Feldemissionskathode (DE-588)4263441-6 s Spitzenkathode (DE-588)4182383-7 s Silicium (DE-588)4077445-4 s Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 s CMOS (DE-588)4010319-5 s MOS-FET (DE-588)4207266-9 s DE-604 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018923495&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis
spellingShingle	Maul, Thomas CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd CMOS (DE-588)4010319-5 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Spitzenkathode (DE-588)4182383-7 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd Feldemissionskathode (DE-588)4263441-6 gnd
subject_GND	(DE-588)4207266-9 (DE-588)4010319-5 (DE-588)4077445-4 (DE-588)4182383-7 (DE-588)4221617-5 (DE-588)4263441-6 (DE-588)4113937-9
title	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen
title_auth	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen
title_exact_search	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen
title_full	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen Thomas Maul
title_fullStr	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen Thomas Maul
title_full_unstemmed	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen Thomas Maul
title_short	CMOS-integrierte Feldemissionsspitzen
title_sort	cmos integrierte feldemissionsspitzen
topic	MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd CMOS (DE-588)4010319-5 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Spitzenkathode (DE-588)4182383-7 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd Feldemissionskathode (DE-588)4263441-6 gnd
topic_facet	MOS-FET CMOS Silicium Spitzenkathode Mikrosystemtechnik Feldemissionskathode Hochschulschrift
url	http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018923495&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
work_keys_str_mv	AT maulthomas cmosintegriertefeldemissionsspitzen

Verfügbarkeit

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Inhaltsverzeichnis

MARC

Datensatz im Suchindex

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Ähnliche Einträge